Версия для слабовидящих
Рус Бел Eng De Cn Es
Андрей Игоревич Бенедиктович

В 2008 году окончил физический факультет Белорусского государственного университета. С 2008 по 2009 годы — магистрант, с 2009 по 2011 — аспирант кафедры теоретической физики Белгосуниверситета.

В 2011 году защитил диссертационную работу «Методы расчета профилей дифракции рентгеновского излучения в неоднородных и напряженных кристаллических структурах» на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук.

Преподавательскую работу в Белорусском государственном университете начал в 2010 г. На физическом факультете БГУ Бенедиктович А. И. проводил практические занятия по курсам «Теория вероятностей и математическая статистика», «Электродинамика», «Теоретическая механика».

Научные интересы:

  • Взаимодействия рентгеновского излучения с кристаллическими и поликристаллическими материалами; 
  • Параметрическое рентгеновское излучение релятивистских электронов в кристалле, пучковая неустойчивость.

Автор более 40 печатных работ, из которых одна монография (в соавторстве с профессором И.Д.Феранчуком и д.ф.-м.н. А.П.Ульяненковым) и более 20 статей в реферируемых журналах.

Цитируемость 38 работ Google Scholar Citations — 49, 
h-индекс —  4,
данные на 24.04.2015.

Scholar.google

ResearchGate

Основные научные публикации:

Монография

  1. A. Benediktovitch, I. Feranchuk and A. Ulyanenkov, Theoretical Concepts of X-ray Nanoscale Analysis, Heidelberg, Springer, 2014.

Избранные статьи: 
 

  1. Long-range scans and many beam effects for high resolution x-ray diffraction from multilayered structures. Phys.Rev.B 77. (2008) 174114 
     подробнее скачать
     
  2. X-ray dynamical diffraction from partly relaxed epitaxial structures. PHYSICAL REVIEW B 80, 235315 (2009).
     подробнее скачать 
     
  3. Lattice tilt, concentration, and relaxation degree of partly relaxed InGaAs/GaAs structures. Phys. Status Solidi A 208, No. 11, 2539–2543 (2011) / DOI 10.1002/pssa.201184251
     подробнее скачать 
      
  4. Simulation of dc conductanceof two-dimensional heterogeneous system:application to carbon wires made by ion irradiationon polycrystalline diamond. phys. stat. sol. (b) 243, No. 6, 1212–1218 (2006) / DOI 10.1002/pssb.200541079
     подробнее скачать 
       
  5. A dynamical theory for the X-ray diffraction from the partially relaxed layers. Phys. Status Solidi A, 1–4 (2009) / DOI 10.1002/pssa.200881598
      подробнее скачать 
     
  6. Laser induced x-ray radiation under the grazing incidence geometry. Journal of Physics: Conference Series 236 (2010) 012015
      подробнее скачать 
     
  7. Influence of Surface Roughness on Evaluation of Stress Gradients in Coatings. Materials Science Forum Vol. 681 (2011) pp 121-126. 
      подробнее скачать  
     
  8. Calculation of X-ray stress factors using vector parameterization and irreducible representations for SO(3) group. Materials Science Forum Vol. 681 (2011) pp 387-392
      подробнее скачать 
     
  9. A. Benediktovitch, T. Ulyanenkova, J.Keckes and A. Ulyanenkov, Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm equipped laboratory X-ray diffractometer, J. Appl. Cryst. (2014). 47, 1931–1938 A.
     
  10. Leonov, D. Ksenzov, A. Benediktovitch, I. Feranchuk and U. Pietsch, Time dependence of X-ray polarizability of a crystal induced by an intense femtosecond X-ray pulse, IUCrJ (2014). 1, 402–417 
     
  11. A. Zhylik, A. Benediktovitch, I. Feranchuk, K. Inaba, A. Mikhalychev and A. Ulyanenkov, Covariant description of X-ray diffraction from anisotropically relaxed epitaxial structures, J. Appl. Cryst. (2013). 46, 919–925 
     
  12. A. Benediktovitch, A. Ulyanenkov, F. Rinaldi, K. Saito and V. M. Kaganer, Concentration and relaxation depth profiles of InxGa1−xAs/GaAs and GaAs1−xPx/GaAs graded epitaxial films studied by x-ray diffraction, Phys. Rev. B (2011). 84, 035302 
     
  13. Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction. J. Appl. Cryst. (2015). 48
     подробнее скачать 
)
© Белорусский государственный университет
Адрес: пр. Независимости, 4, 220030, г. Минск, Республика Беларусь.
Тел. + 375 17 209 50 44. Факс. + 375 17 226 59 40. Url: .